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WYL-4晶體應(yīng)力雙折射儀
晶體應(yīng)力雙折射儀
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晶體應(yīng)力雙折射儀型號(hào):WYL-4
晶體應(yīng)力雙折射儀
儀器簡(jiǎn)介:
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因,其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力,引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理,通過(guò)對(duì)樣品的光程差的定量測(cè)定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測(cè)定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別,是光學(xué)儀器制造業(yè)的儀器,也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。
儀器特點(diǎn):
★ 直讀納米級(jí)光程差,無(wú)須計(jì)算。
★ 雙分視場(chǎng)零位檢測(cè),靈敏度高。
★ 樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位。
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
★ 操作方便,可靠實(shí)。
技 術(shù) 參 數(shù) | 技術(shù)指標(biāo) |
儀 器 | WYL-4應(yīng)力雙折射儀 |
單 色 光 波 長(zhǎng) | 589.44nm |
光 程 差 測(cè) 定范圍 | ± 590 nm |
度 盤 格 值 | 5nm |
Z小讀數(shù)(1/5估讀) | 1nm |
儀 器 零 位 誤 差 | ±2nm |
波 片 讀 數(shù)重復(fù)性 | 1nm |
光 源 | 220V 20W低壓鈉燈 |
被 檢 樣品Z大尺寸 | 寬度440mm;長(zhǎng)度440mm;高度240 mm |
儀 器 尺 寸 (mm) | 413 ×250 ×400 |